Programma preliminare

Ultimo aggiornamento: 07.03.2007

Domenica, 22 Aprile

15:30	Registrazione
17:00	G. Paolucci Introduzione alle applicazioni di Luce di Sincrotrone allo studio dei materiali
19:00	Cena di benvenuto

Lunedi, 23 Aprile

9:00	R. Visintini Principi generali e caratteristiche della Luce di Sincrotrone
10:00	E. Busetto Ottiche per raggi X
11:00	Coffee break
11:30	Andrea Lausi Rivelatori per raggi X
12:30	Pranzo
14:30	Trasferimento in pulmann a ELETTRA
15:00	Visita a Elettra
19:00	Trasferimento in pulmann alla cena sociale

Martedi, 24 Aprile

9:00	S. Mobilio Introduzione alla Spettroscopia di Assorbimento di Raggi X
10:00	F. Boscherini Applicazioni ai film sottili ed ai sistemi nanostrutturati
11:00	Coffee break
11:30	P. Fornasini Metodi di analisi dei dati
12:30	Pranzo
Computer Session
14:30	C. Meneghini Analisi dei dati standard
16:15	Coffee break
16:30 18:15	F. D'Acapito Programmi di analisi avanzata (FEFF/GNXAS)

Mercoledi, 25 Aprile

8:30	P. Scardi Diffrazione da materiali nanocristallini e fortemente deformati: metodi tradizionali e di modellazione dello spettro intero
10:00	A. Cervellino Metodo di Debye per la modellazione di nanoparticelle
11:00	Coffee break
11:30	M. Leoni Diffrazione per lo studio di rivestimenti e strati sottili
12:30	Pranzo
Computer Session
14:30	P. Scardi Analisi del profilo di diffrazione: metodi tradizionali
16:00	Coffee break
16:30 18:30	A. Cervellino, M. Leoni Analisi del profilo di diffrazione: metodi avanzati

Giovedi, 26 Aprile

9:00	A. Benedetti Introduzione alla diffusione a basso angolo
9:45	P. Riello Primi elementi di analisi dei dati con relativi esempi applicativi
10:45	Coffee break
11:15	S. Bernstorff GISAXS in materials science
12:15	H. Amenitsch SAXS in solution and under extreme conditions
13:15	Pranzo
Computer Session
14:15 17:15	S. Bernstorff, M. Rappolt, B. Sartori Analisi dei dati SAXS e interpretazione