Motivazione

In anni recenti le applicazioni della Luce di Sincrotrone, dall'ambito della ricerca di base, stanno interessando via via maggiormente il campo della ricerca e sviluppo tecnologico. Numerosi laboratori di L.S. stanno portando avanti programmi di accesso dedicati ad aumentare il numero di utenti industriali e si sono dotati di dipartimenti specifici per sviluppare questi aspetti dell' utilizzo della L.S. La scienza e tecnologia dei materiali possono cos� beneficiare della disponibilit� di una risorsa che si � evoluta al punto da poter essere usata come uno strumento nelle mani di ricercatorie tecnologi. La L.S. pu� fornire un grande numero di tecniche analitiche, alcune esclusive ed altre che si configurano come molto migliorate rispetto alle corrispondenti tecniche di laboratorio. Scopo di questa seconda edizione della scuola � fornire una introduzione alle principali tecniche di L.S. di interesse per la scienza e tecnologia dei materiali, con una attenzione specifica per i materiali nanocristallini e nanocomposti, i film sottili ed i rivestimenti. Il comune denominatore � dato dalla possibilit� di studiare tali materiali a diversi livelli, dalla struttura atomica locale alla composizione chimica, alla struttura cristallina, alle propriet� microstrutturali reali.

1. EXAFS per la determinazione della struttura atomica locale;
2. XRD per la caratterizzazione delle propriet� microstrutturali reali;
3. SAXS per lo studio di cluster metallici, fasi sol-gel e filmsottili.

La scuola consiste di lezioni teoriche tenute da esperti in questi campi e di sessioni pratiche al computer, queste ultime dedicate per lo pi� all'analisi ed alla interpretazione dei dati. In aggiunta a queste tre tecniche specifiche, il programma include un'introduzione alle principali applicazioni della L.S. elezioni sui principi base di sorgenti, ottiche e rivelatori impiegati per le diverse applicazioni.